目前大多數(shù)共焦顯微鏡多為生物學(xué)研究設(shè)計(jì)，很多特點(diǎn)和功能偏離材料科學(xué)研究。PL1光致發(fā)光時(shí)間分辨共焦顯微系統(tǒng)是專為材料光致發(fā)光測(cè)試而設(shè)計(jì)的。其功能實(shí)用，價(jià)位適中；激光光源，探測(cè)器類型以及光路設(shè)計(jì)采用光纖耦合，簡(jiǎn)單易用，牢固可靠;標(biāo)準(zhǔn)化配置，可定制化改造；可改造顯微鏡適合深紫外激發(fā)到250nm；可以配置雙法測(cè)試，即同時(shí)配置TCSPC和FastFLIM。

PL1光致發(fā)光時(shí)間分辨共焦顯微系統(tǒng)特點(diǎn)：

激發(fā)波長(zhǎng)從深紫外266nm-1000nm可選；

光譜探測(cè)范圍：300nm-1700nm；

寬范圍時(shí)間壽命測(cè)量能力：標(biāo)準(zhǔn)100ps-100ms，頻域技術(shù)可低至10ps；

熒光強(qiáng)度和壽命成像可同時(shí)獲得（空間分辨率可達(dá)衍射極限低至250nm）；

光學(xué)切面3D掃描，三維熒光壽命成像，分辨率低至50nm；

具有多功能檢測(cè)能力，可靈活選配冷熱臺(tái)、高壓控制附件等；

集成設(shè)計(jì)，具有靈活定制擴(kuò)展能力，可滿足客戶不同研究領(lǐng)域靈活配置，提升研究效率；

應(yīng)用方向：

材料科學(xué)研究
半導(dǎo)體材料表征
太陽(yáng)能電池材料

晶體材料
其他光致發(fā)光材料

常規(guī)測(cè)量能力

強(qiáng)度和熒光壽命成像

光致發(fā)光共焦強(qiáng)度成像

光致發(fā)光共焦壽命成像，XYZ和T多維度，具有掃描和單點(diǎn)模式

FFS熒光變動(dòng)光譜

熒光相關(guān)光譜（FCS)

光子計(jì)數(shù)直方圖（PCH）

熒光壽命相關(guān)光譜（FLCS）

單分子成像

Burst分析

單分子FRET熒光共振能量轉(zhuǎn)移分析

應(yīng)用案例：

量子點(diǎn)：

上圖相量圖可獨(dú)立區(qū)分基體涂層量子點(diǎn)熒光壽命種類，直接從原始數(shù)據(jù)獲得。激發(fā)波長(zhǎng)470nm，發(fā)射波長(zhǎng)499-632nm（熒光），475/35nm（反射），掃描區(qū)域17.5μm×17.5μm。（Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West Lafayette，IN;USA)

鈣鈦礦表征：

上圖是鈣鈦礦高空間分辨率共焦熒光壽命成像及光致發(fā)光（熒光）強(qiáng)度。ISS VistaVisiontion提供最小化數(shù)據(jù)擬合算法和相矢量圖壽命分析；如，使用多圖相圖常規(guī)分析方法，不同鈣鈦礦樣品的熒光壽命可以通過鑒定原始數(shù)據(jù)相矢量圖立即獲?。o需數(shù)據(jù)擬合），使得熒光壽命分析更簡(jiǎn)便和準(zhǔn)確。激發(fā)波長(zhǎng)488nm；發(fā)射光譜通過635nm長(zhǎng)通濾波器；掃描區(qū)域：20μm×20μm。

納米粒子熒光上轉(zhuǎn)換：

上圖是上轉(zhuǎn)換納米粒子共焦壽命成像，包含高空間分辨率光致發(fā)光強(qiáng)度和壽命。激發(fā)波長(zhǎng)980nm，發(fā)射波長(zhǎng)509-552nm。掃描區(qū)域20μm×20μm。